Počet záznamů: 1
DBR diode based laser source working at 633 nm for dimensional nanometrology
- 1.
SYSNO ASEP 0467526 Druh ASEP A - Abstrakt Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Zařazení RIV Není vybrán druh dokumentu Název DBR diode based laser source working at 633 nm for dimensional nanometrology Tvůrce(i) Řeřucha, Šimon (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Pham, Minh Tuan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Čížek, Martin (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Hucl, Václav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Yacoot, A. (GB)Celkový počet autorů 7 Zdroj.dok. NanoScale 2016. 11th Seminar on Quantitative Microscopy (QM) and 7th Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods. - Wroclaw : Wroclaw University of Technology, 2016
S. 109-110Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce NanoScale 2016. Seminar on Quantitative Microscopy (QM) /11./ and Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods /7./ Datum konání 09.03.2016 - 11.03.2016 Místo konání Wroclaw Země PL - Polsko Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. PL - Polsko Klíč. slova laser metrology ; DBR laser diode ; laser interferometry ; displacement metrology ; laser system Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GB14-36681G GA ČR - Grantová agentura ČR TE01020233 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace We have assembled an experimental iodine stabilized Distributed Bragg Reflector (DBR) diode based laser system lasing at a wavelength that is in a close proximity to the wavelength of a stabilized He-Ne lasers traditionally used for metrological applications. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2017
Počet záznamů: 1