Počet záznamů: 1
Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0467260 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV Záznam nebyl označen do RIV Název Reflected and transmitted mode in the scanning low energy electron microscope Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Pokorná, Zuzana (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. 2nd Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration (CAMRIC-FORUM2). - Toyama : University of Toyama, 2016 Rozsah stran s. 29-30 Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce Forum of Center for ADvanced Materials Research and International Collaboration /2./ (CAMRIC-FORUM2) Datum konání 13.10.2016 - 14.10.2016 Místo konání Toyama Země JP - Japonsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. JP - Japonsko Klíč. slova SLEEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 Anotace Recent applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM) are presented. The device employs the electron signal reflected from the specimen for observation through the specimen for observation throughout the full energy scale down to units of electronvolts. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2017
Počet záznamů: 1