Počet záznamů: 1

Temperature dependent mass loss of Epon resin sections, p 56 Keywords: Epon resin, mass loss, radiation damage, low voltage STEM, temperature

SYSNO ASEP	0466095
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Zařazení RIV	Není vybrán druh dokumentu
Název	Temperature dependent mass loss of Epon resin sections, p 56 Keywords: Epon resin, mass loss, radiation damage, low voltage STEM, temperature
Tvůrce(i)	Skoupý, Radim (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Nebesářová, Jana (BC-A)_{RID, ORCID} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Celkový počet autorů	3
Zdroj.dok.	Mikroskopie 2016. - Praha : Československá mikroskopická společnost, 2016 S. 56
Poč.str.	1 s.
Forma vydání	Tištěná - P
Akce	Mikroskopie 2016
Datum konání	03.05.2016 - 04.05.2016
Místo konání	Lednice
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	EUR
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	epon resin ; mass loss ; radiation damage ; low voltage STEM ; temperature
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Vědní obor RIV – spolupráce	Biologické centrum (od r. 2006) - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	GA14-20012S GA ČR - Grantová agentura ČR
	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731 ; BC-A - RVO:60077344
Anotace	A scanning transmission electron microscope (STEM) is a useful device combining features of scanning and transmission electron microscopes.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2017

Počet záznamů: 1