Počet záznamů: 1

Difraction in a scanning electron microscopie

SYSNO ASEP	0460211
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Difraction in a scanning electron microscopie
Tvůrce(i)	Řiháček, Tomáš (UPT-D)_{RID, ORCID} Mika, Filip (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Matějka, Milan (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krátký, Stanislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	5
Zdroj.dok.	Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. - Brno : Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 / Mika Filip - ISBN 978-80-87441-17-6
Rozsah stran	s. 56-57
Poč.str.	2 s.
Forma vydání	Tištěná - P
Akce	International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./
Datum konání	29.05.2016 - 03.06.2016
Místo konání	Skalský dvůr
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	electron microscopy ; TEM ; STEM
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
UT WOS	000391254000025
Anotace	Manipulation with the primary beam phase in a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) has drawn significant attention in the microscopy community in the recent years. Although a few applications were found long before, some are still subjects of a future research. One of them is the use of electron vortex beams, which has very promising potential. It ranges from probing magnetic materials and manipulating with nanoparticles to spin polarization of a beam in an electron microscope. The methods for producing electron vortex beams have undergone a lot of development in recent years as well. The most versatile way is holographic reconstruction using computer-generated holograms modifying either phase or amplitude. As the method is based on diffraction, beam coherence is a very important parameter here. It is usually performed in TEM at energies of about 100 – 300 keV which are well suited for diffraction on artificial structures for two reasons. The coherence of the primary beam is often reasonable, and the diffraction pattern is easily observed. This is however not the case for a standard scanning electron microscope (SEM) with typical energy up to 30 keV.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2017
Elektronická adresa	http://www.trends.isibrno.cz/

Počet záznamů: 1