Počet záznamů: 1
Difraction in a scanning electron microscopie
- 1.
SYSNO ASEP 0460211 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Difraction in a scanning electron microscopie Tvůrce(i) Řiháček, Tomáš (UPT-D) RID, ORCID
Mika, Filip (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Matějka, Milan (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Krátký, Stanislav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. - Brno : Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 / Mika Filip - ISBN 978-80-87441-17-6 Rozsah stran s. 56-57 Poč.str. 2 s. Forma vydání Tištěná - P Akce International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./ Datum konání 29.05.2016 - 03.06.2016 Místo konání Skalský dvůr Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova electron microscopy ; TEM ; STEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 UT WOS 000391254000025 Anotace Manipulation with the primary beam phase in a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) has drawn significant attention in the microscopy community in the recent years. Although a few applications were found long before, some are still subjects of a future research. One of them is the use of electron vortex beams, which has very promising potential. It ranges from probing magnetic materials and manipulating with nanoparticles to spin polarization of a beam in an electron microscope.
The methods for producing electron vortex beams have undergone a lot of development in recent years as well. The most versatile way is holographic reconstruction using computer-generated holograms modifying either phase or amplitude. As the method is
based on diffraction, beam coherence is a very important parameter here. It is usually performed in TEM at energies of about 100 – 300 keV which are well suited for diffraction on artificial structures for two reasons. The coherence of the primary beam is often reasonable, and the diffraction pattern is easily observed. This is however not the case for a standard scanning electron microscope (SEM) with typical energy up to 30 keV.Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2017 Elektronická adresa http://www.trends.isibrno.cz/
Počet záznamů: 1