Počet záznamů: 1  

Scanning transmission microscopy at very low energies

  1. 1.
    SYSNO ASEP0460206
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevScanning transmission microscopy at very low energies
    Tvůrce(i) Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
    Konvalina, Ivo (UPT-D) RID, ORCID, SAI
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů4
    Zdroj.dok.Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. - Brno : Institute of Scientific Instruments CAS, 2016 / Mika Filip - ISBN 978-80-87441-17-6
    Rozsah strans. 40-41
    Poč.str.2 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    AkceInternational Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./
    Datum konání29.05.2016 - 03.06.2016
    Místo konáníSkalský dvůr
    ZeměCZ - Česká republika
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.CZ - Česká republika
    Klíč. slovaelectron microscopy ; SEM
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPTE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura České republiky
    LO1212 GA MŠk - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    UT WOS000391254000018
    AnotaceTo operate down to units of eV with a small primary spot size, a cathode lens with a biased specimen was introduced into the SEM. The reflected signal, accelerated secondary and backscattered electrons, is collected by detectors situated above the specimen.
    When we insert a detector below the specimen, the transmitted electron signal can also be used for imaging down to zero energy. Fig. 1 also shows an example of the simulated signal trajectories of electrons that impact on the detector of reflected electrons, based on an Yttrium Aluminium Garnet (YAG) crystal, and trajectories of electrons transmitted through the specimen and incident on a semiconductor detector based on the PIN structure.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2017
    Elektronická adresahttp://www.trends.isibrno.cz/
Počet záznamů: 1