Počet záznamů: 1
Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass
- 1.
SYSNO ASEP 0458106 Druh ASEP V - Výzkumná zpráva Zařazení RIV V – výzkumná zpráva Název Characterization of amorphous and microcrystalline Si layers and ZnO layers on glass Tvůrce(i) Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Holovský, Jakub (FZU-D) RID, ORCID
Poruba, Aleš (FZU-D) RID
Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
Purkrt, Adam (FZU-D) RIDVyd. údaje Praha: Tel Solar AG, Trübbach, Switzerland, 2015 Poč.str. 22 s. Forma vydání Online - E Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova optical properties ; amorphous silicon ; microcrystalline silicon ; ZnO Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Další zdroj neveřejné zdroje Anotace Optical and photoelectrical properties of materials from TEL Solar were characterized in the Institute of Physics, AS CR in a broad spectral region and a high dynamic range. Conclusions on material properties with respect to thin film silicon solar cells were drawn. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2016
Počet záznamů: 1