Počet záznamů: 1

Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections

SYSNO ASEP	0452276
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Electron beam induced mass loss dependence on aging of Epon resin sections
Tvůrce(i)	Skoupý, Radim (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Krzyžánek, Vladislav (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Kočová, L. (CZ) Nebesářová, Jana (BC-A)_{RID, ORCID}
Celkový počet autorů	4
Zdroj.dok.	12th Multinational Congress on Microscopy. - Budapest : Akadémiai Kiadó, 2015 - ISBN 978-963-05-9653-4
Rozsah stran	s. 112-113
Poč.str.	2 s.
Forma vydání	Online - E
Akce	MCM 2015. Multinational Congress on Microscopy /12./
Datum konání	23.08.2015-28.08.2015
Místo konání	Eger
Země	HU - Maďarsko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	HU - Maďarsko
Klíč. slova	STEM ; mass loss ; resin ; Epon
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	GA14-20012S GA ČR - Grantová agentura ČR
	LO1212 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731 ; BC-A - RVO:60077344
Anotace	It has been recently shown that low voltage STEM (Scanning Transmission Electron Microscope) can be regarded as the method of choice for many studies of biological samples. Main advantage of this technique is that it allows one to image samples with low contrast. Usually, in a standard STEM (typical acceleration voltage 60–300 kV) the image contrast is enhanced by staining using salts of heavy metals (e.g., uranyl acetate, lead citrate). This is not necessarily in low voltage STEM. Consequently, investigated structures are closer to native state of investigated samples. During sample preparation biological material is embedded in a resin which is observed in microscope in a form of ultrathin sections. There is commercially available wide spectrum of resins with different properties for embedding samples in a range from soft tissues to bones. They have various parameters such as hardness, mechanical stability, penetrability. For imaging an important parameter is a sensitivity to degradation by electron beam.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2016

Počet záznamů: 1