Počet záznamů: 1
Imaging three-dimensional surface objects with submolecular resolution by atomic force microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0451941 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Imaging three-dimensional surface objects with submolecular resolution by atomic force microscopy Tvůrce(i) Moreno, C. (JP)
Stetsovych, Oleksandr (FZU-D) ORCID
Shimizu, T.K. (JP)
Custance, O. (JP)Zdroj.dok. Nano Letters. - : American Chemical Society - ISSN 1530-6984
Roč. 15, č. 4 (2015), s. 2257-2262Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova noncontact atomic force microscopy (NC-AFM) ; submolecular resolution ; three-dimensional dynamic force spectroscopy ; high-resolution imaging Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000352750200007 EID SCOPUS 84926611569 DOI 10.1021/nl504182w Anotace Here we present a method for high-resolution imaging of nonplanar molecules and 3D surface systems using AFM with silicon cantilevers as force sensors. We demonstrate this method by resolving the step-edges of the (101) anatase surface at the atomic scale by simultaneously visualizing the structure of a pentacene molecule together with the atomic positions of the substrate and by resolving the contour and probe-surface force field on a C60 molecule with intramolecular resolution. The method reported here holds substantial promise for the study of 3D surface systems such as nanotubes, clusters, nanoparticles, polymers, and biomolecules using AFM with high resolution. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2016
Počet záznamů: 1