Počet záznamů: 1  

On the improvement of PEC activity of hematite thin films deposited by high-power pulsed magnetron sputtering method

  1. 1.
    SYSNO ASEP0449337
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevOn the improvement of PEC activity of hematite thin films deposited by high-power pulsed magnetron sputtering method
    Tvůrce(i) Kment, Š. (CZ)
    Hubička, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Krysa, C. (CZ)
    Sekora, D. (US)
    Zlámal, M. (CZ)
    Olejníček, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
    Čada, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Kšírová, Petra (FZU-D) RID, ORCID
    Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
    Schmuki, P. (DE)
    Schubert, E. (US)
    Zbořil, R. (CZ)
    Zdroj.dok.Applied Catalysis B - Environmental. - : Elsevier - ISSN 0926-3373
    Roč. 165, Apr (2015), s. 344-350
    Poč.str.7 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.NL - Nizozemsko
    Klíč. slovaALD ; HiPIMS ; passivation layer ; photoelectrochemical water splitting ; very thin films
    Vědní obor RIVBL - Fyzika plazmatu a výboje v plynech
    CEPGAP108/12/2104 GA ČR - Grantová agentura ČR
    LH12043 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    Institucionální podporaFZU-D - RVO:68378271
    UT WOS000347584200038
    EID SCOPUS84908627727
    DOI10.1016/j.apcatb.2014.10.015
    AnotaceIron oxide (α-Fe2O3) hematite films were prepared by a novel high-power impulse magnetron sputtering method (HiPIMS). Some of the crucial issues of hematite are a large overpotential needed to develop the water oxidation photocurrent onset, high extent of surface defects acting as traps, and a short diffusion length (2–4 nm) of photogenerated holes. We report on minimizing these limits by deposition of highly photoactive nanocrystalline very thin ( 30 nm) absorbing hematite films by HiPIMS and their passivation by ultra-thin ( 2 nm) atomic layer deposited (ALD) isocrystalline alumina oxide (α-Al2O3) films. A new approach of one-step annealing of this bilayer system is introduced. The films were judged on the basis of physical properties such as crystalline structure, optical absorption, surface topography, and electronic properties.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2016
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.