Počet záznamů: 1
Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films
- 1.
SYSNO ASEP 0449326 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Reciprocal-space mapping for simultaneous determination of texture and stress in thin films Tvůrce(i) Šimek, Daniel (FZU-D) RID, ORCID
Kužel, R. (CZ)
Rafaja, D. (DE)Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. - : Wiley - ISSN 0021-8898
Roč. 39, č. 4 (2006), s. 487-501Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova texture ; stress ; X-ray diffraction ; reciprocal space mapping Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus Institucionální podpora FZU-D - RVO:68378271 UT WOS 000239147800003 EID SCOPUS 33746395146 DOI 10.1107/S0021889806015500 Anotace A method of reciprocal-space mapping followed by Rietveld-type refinement of the maps has been developed and tested for strongly textured thin films with fibre texture. The method is particularly useful for simultaneous analysis of stress and texture, expecially in non-cubic materials. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2016
Počet záznamů: 1