Scanning Low Energy Electron Microscopy for the determination of crystallographic orientation of polycrystalline metal grains

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0423862
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Název	Scanning Low Energy Electron Microscopy for the determination of crystallographic orientation of polycrystalline metal grains
Tvůrce(i)	Pokorná, Zuzana (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Knápek, Alexandr (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Celkový počet autorů	2
Zdroj.dok.	Microscopy conference (MC) 2013. Proceedings, 2. - Regensburg : University of Regensburg, 2013
Rozsah stran	s. 329-330
Poč.str.	2 s.
Forma vydání	Online - E
Akce	Microscopy Conference 2013
Datum konání	25.08.2013-30. 08.2013
Místo konání	Regensburg
Země	DE - Německo
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	DE - Německo
Klíč. slova	SLEEM ; Crystallographic orientation ; polycrystalline metal ; cathode lens
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Institucionální podpora	UPT-D - RVO:68081731
Anotace	Scanning Low Energy Electron Microscopy (SLEEM) is a Scanning Electron Microscopy technique in which electrons of an arbitrarily low incident energy (103–100 eV) are used. It makes use of the cathode lens principle, allowing to preserve a very good image resolution even at the lowest incident electron energies.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2014

Počet záznamů: 1