Počet záznamů: 1

Narrowband laser-based ultrasonic technique for thin film characterization

SYSNO ASEP	0422089
Druh ASEP	A - Abstrakt
Zařazení RIV	Záznam nebyl označen do RIV
Zařazení RIV	Není vybrán druh dokumentu
Název	Narrowband laser-based ultrasonic technique for thin film characterization
Tvůrce(i)	Stoklasová, Pavla (UT-L)_{RID, ORCID} Landa, Michal (UT-L)_RID Sedlák, Petr (UT-L)_{RID, ORCID} Seiner, Hanuš (UT-L)_{RID, ORCID} Trnka, Jan (UT-L)_RID
Zdroj.dok.	3rd International Symposium on Laser Ultrasonics and Advanced Sensing. - Japan : JSNDI, 2013 S. 44-44
Poč.str.	1 s.
Forma vydání	Tištěná - P
Akce	LU2013
Datum konání	25.06.2013-28.06.2013
Místo konání	Yokohama
Země	JP - Japonsko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	JP - Japonsko
Klíč. slova	laser-based ultrasonic method ; thin-layer ; spatial light modulator ; dispersion curve
Vědní obor RIV	BI - Akustika a kmity
CEP	GPP101/12/P428 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA101/09/0702 GA ČR - Grantová agentura ČR
Institucionální podpora	UT-L - RVO:61388998
Anotace	Thin-layer structures can be found in a wide range of applications such as in microelectronics, biotechnology, optics and other areas of technology. The increasing number of existing and potential applications results in an unceasing demand for measuring methods that provide us with material characterization of thin films and coatings. This knowledge is critical for the optimal fabrication of thin-films and the resulting performance of the products with integrated thin-layered components.
Pracoviště	Ústav termomechaniky
Kontakt	Marie Kajprová, kajprova@it.cas.cz, Tel.: 266 053 154 ; Jana Lahovská, jaja@it.cas.cz, Tel.: 266 053 823
Rok sběru	2014

Počet záznamů: 1