Počet záznamů: 1

Annealing of PEEK, PET and PI implanted with Co ions at high fluencies

SYSNO ASEP	0395266
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Annealing of PEEK, PET and PI implanted with Co ions at high fluencies
Tvůrce(i)	Macková, Anna (UJF-V)_{RID, ORCID, SAI} Malinský, Petr (UJF-V)_{RID, ORCID, SAI} Mikšová, Romana (UJF-V)_{RID, ORCID, SAI} Pupíková, Hana (UJF-V)_RID Khaibullin, R. I. (RU) Valeev, V. F. (RU) Švorčík, V. (CZ) Slepička, P. (CZ)
Celkový počet autorů	8
Zdroj.dok.	Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B. - : Elsevier - ISSN 0168-583X Roč. 307, č. 7 (2013), s. 598-602
Poč.str.	5 s.
Forma vydání	Tištěná - P
Akce	18th International Conference on Ion Beam Modifications of Materials (IBMM)
Datum konání	02.09.2012-07.09.2012
Místo konání	Qingdao
Země	CN - Čína
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	NL - Nizozemsko
Klíč. slova	Co-ions implantation ; polymers ; depth profiles ; RBS ; TEM ; AFM
Vědní obor RIV	BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
CEP	GBP108/12/G108 GA ČR - Grantová agentura ČR
	LM2011019 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
Institucionální podpora	UJF-V - RVO:61389005
UT WOS	000321722200131
DOI	10.1016/j.nimb.2012.11.078
Anotace	he properties of implanted polymers strongly depend on the implantation ion fluence and on the properties of the implanted atoms. The stability of synthesized nano-structures during further technological steps like annealing is of importance for their possible applications. Polyimide (PI), polyetheretherketone (PEEK), and polyethyleneterephtalate (PET) were implanted with 40 keV Co+ ions at room temperature at fluences ranging from 0.2 x 10(16) cm(-2) to 1.0 x 10(17) cm(-2) and annealed at a temperature of 200 degrees C. The implanted depth profiles of as-implanted and annealed samples, determined by the RBS method, were compared with the results of SRIM 2012 simulations. The structural and compositional changes of the implanted and subsequently annealed polymers were characterized by RBS and UV-vis spectroscopy. The surface morphology of as-implanted and annealed samples was examined by the AFM method and their electrical properties by sheet resistance measurement.
Pracoviště	Ústav jaderné fyziky
Kontakt	Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
Rok sběru	2014

Počet záznamů: 1