Počet záznamů: 1
Very low energy electron microscopy of graphene flakes
- 1.
SYSNO ASEP 0395127 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Very low energy electron microscopy of graphene flakes Tvůrce(i) Mikmeková, Eliška (UPT-D) RID
Bouyanfif, H. (FR)
Lejeune, M. (FR)
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Hovorka, Miloš (UPT-D)
Unčovský, M. (CZ)
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Journal of Microscopy. - : Wiley - ISSN 0022-2720
Roč. 251, č. 2 (2013), s. 123-127Poč.str. 5 s. Forma vydání Tištěná - P Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova graphene ; very low energy STEM Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR TE01020118 GA TA ČR - Technologická agentura ČR ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy Institucionální podpora UPT-D - RVO:68081731 UT WOS 000321618700003 EID SCOPUS 84880258537 DOI 10.1111/jmi.12049 Anotace Commercially available graphene samples are examined by Raman spectroscopy and very low energy scanning transmission electron microscopy. Limited lateral resolution of Raman spectroscopy may produce a Raman spectrum corresponding to a single graphene layer even for flakes that can be identified by very low energy electron microscopy as an aggregate of smaller flakes of various thicknesses. In addition to diagnostics of graphene samples at larger dimensions, their electron transmittance can also be measured at very low energies. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2014
Počet záznamů: 1