Počet záznamů: 1  

Very Low Energy STEM and Imaging of Free-standing Foils

  1. 1.
    SYSNO ASEP0379917
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevVery Low Energy STEM and Imaging of Free-standing Foils
    Tvůrce(i) Hovorka, Miloš (UPT-D)
    Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů3
    Zdroj.dok.Coneference Proceedings APMC-10, ICONN 2012 and ACMM-22. - Wembley : EECW Pty Ltd, 2012 - ISBN 978-1-74052-245-8
    Rozsah stran411:1-2
    Poč.str.2 s.
    AkceAsia-Pacific Microscopy Conference (APMC-10) - International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICONN 2012) - Australian Conference on Microscopy and Microanalysis (ACMM-22)
    Datum konání05.02.2012-09.02.2012
    Místo konáníPerth
    ZeměAU - Austrálie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.AU - Austrálie
    Klíč. slovascanning low energy electron microscopy ; cathode lens ; transmitted electrons
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPFR-TI3/323 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
    Institucionální podporaUPT-D - RVO:68081731
    AnotaceWe extended the imaging capability of an ultra-high vacuum (UHV) scanning low energy electron microscope (SLEEM) to the transmission mode at very low electron energies. The simultaneous incorporation of a cathode lens (CL) and a detector of transmitted electrons (TE) allows to study ultrathin free-standing foils by transmitted electrons in the energy range between keV and units of eV. Experiments were performed on amorphous carbon and scandium foils a few nm thick and on graphene-like flakes. A high contrast was obtained that depended on the thickness and the structure of the foil.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2012
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.