Počet záznamů: 1  

The Characterisation of Silicate Glasses Implanted with Ag+ Ions

  1. 1.
    SYSNO ASEP0370848
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevThe Characterisation of Silicate Glasses Implanted with Ag+ Ions
    Tvůrce(i) Malinský, Petr (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Macková, Anna (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Nekvindová, P. (CZ)
    Švecová, B. (CZ)
    Kormunda, M. (CZ)
    Kolitsch, A. (DE)
    Celkový počet autorů6
    Zdroj.dok.AIP Conference Proceedings , APPLICATIONS OF NUCLEAR TECHNIQUES: ELEVENTH INTERNATIONAL CONFERENCE. - Melville : American Institute of Physics, 2011 - ISSN 0094-243X - ISBN 978-0-7354-0986-6
    Rozsah strans. 327-334
    Poč.str.7 s.
    Forma vydáníTištěná - P
    Akce11th International Conference on Applications of Nuclear Techniques
    Datum konání12.06.2011-18.06.2011
    Místo konáníCrete
    ZeměGR - Řecko
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovaion implantation ; silicate glasses ; metal nanoparticles ; Rutherford Backscattering Spectroscopy ; optical absorption
    Vědní obor RIVBG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače
    CEPGA106/09/0125 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
    UT WOS000301973400042
    DOI10.1063/1.3665331
    AnotaceSilica-based glasses containing silver nanoparticles have been shown to be promising materials in photonic applications. Various silica-based glasses were implanted with 1.7 MeV Ag+ ions with fluences of 1x1016 cm-2 and annealed at 600 °C for 5 hours. The concentration depth profiles were characterised using Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). The measured concentration depth profiles of the implanted Ag atoms were compared with the theoretically predicted implantation profiles simulated by SRIM-2008. The optical properties of the prepared nanostructures were examined by UV-VIS spectroscopy. It was found that the composition and structure of the glass has an influence on the penetration of the implanted ions during the implantation and post-implantation annealing, on the oxidation state of silver present in the glass matrix and on the resulting optical properties.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2013
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.