Počet záznamů: 1
Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM
- 1.
SYSNO ASEP 0368932 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Detection of Secondary Electrons by Scintillation Detector at VP SEM Tvůrce(i) Jirák, J. (CZ)
Čudek, P. (CZ)
Neděla, Vilém (UPT-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 3 Zdroj.dok. Microscopy and Microanalysis. - : Cambridge University Press - ISSN 1431-9276
Roč. 17, Suppl. 2 (2011), s. 922-923Poč.str. 2 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova variable pressure scanning electron microscopes (VP-SEM) ; scintillation detector ; secondary electrons Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP GAP102/10/1410 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) DOI 10.1017/S1431927611005484 Anotace For specimen observation in the scanning electron microscope operating at a higher pressure of gases in the specimen chamber (VP SEM) ionization and scintillation detectors are commonly used. The ionization detector detects a mixture of signals of secondary and backscattered electrons. Detection of predominantly secondary electrons is possible due to a special detector construction. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1