Počet záznamů: 1

Scanning Very Low Energy Electron Microscopy

SYSNO ASEP	0368827
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Scanning Very Low Energy Electron Microscopy
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Hovorka, Miloš (UPT-D) Mikmeková, Šárka (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Pokorná, Zuzana (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Mikmeková, Eliška (UPT-D)_RID Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	6
Zdroj.dok.	NANOCON 2011. 3rd International Conference. - Ostrava : Tanger spol. s r. o, 2011 - ISBN 978-80-87294-27-7
Rozsah stran	s. 238-243
Poč.str.	6 s.
Akce	NANOCON 2011. International Conference /3./
Datum konání	21.09.2011-23.09.2011
Místo konání	Brno
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	scanning electron microscopy ; low energy electrons ; grain contrast ; transmitted electrons ; dopant contrast ; thin films
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	GAP108/11/2270 GA ČR - Grantová agentura ČR
	IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
UT WOS	000306686700035
Anotace	Recent developments in applications of the scanning very low energy electron microscopy in selected branches of materials science are reviewed. The examples include visualization of grains in conductive polycrystals including ultrafine grained metals, identification of the local crystal orientation upon reflectance of very slow electrons, transmission mode with ultrathin free-standing films including graphene, acquisition of a quantitative dopant contrast in semiconductors, and examination of thin surface coverages.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2012

Počet záznamů: 1