Počet záznamů: 1

Sub-Nanometer Scale Temperature Distance Change Monitor by Optical Frequency Comb Referenced to the Atomic Clock

SYSNO ASEP	0368253
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	Sub-Nanometer Scale Temperature Distance Change Monitor by Optical Frequency Comb Referenced to the Atomic Clock
Tvůrce(i)	Šmíd, Radek (UPT-D)_{RID, SAI} Číp, Ondřej (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Čížek, Martin (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Buchta, Zdeněk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Lazar, Josef (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI}
Celkový počet autorů	5
Zdroj.dok.	Proceedings of the 20th IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement. - Aachen : Shaker Verlag, 2011 - ISBN 978-3-8440-0058-0
Rozsah stran	s. 130-133
Poč.str.	4 s.
Akce	IMEKO TC2 Symposium on Photonics in Measurement /20./
Datum konání	16.05.2011-18.05.2011
Místo konání	Linz
Země	AT - Rakousko
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	DE - Německo
Klíč. slova	length measurement ; interferometry ; nanoscale changes ; optical frequency comb
Vědní obor RIV	BH - Optika, masery a lasery
CEP	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	2C06012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	FT-TA3/133 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	2A-3TP1/113 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu
	GA102/09/1276 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GA102/07/1179 GA ČR - Grantová agentura ČR
	GAP102/10/1813 GA ČR - Grantová agentura ČR
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
Anotace	In this work we present a method of monitor of small distance changes in the sub-nanometer order. The method uses a Fabry-Perot cavity of Zerodur spacer. It’s length is monitored by a selected mode of the femtosecond frequency comb is locked to certain mode of the optical cavity. Measured cavity is placed into temperature stabilized vacuum chamber. Temperature changes affects the length of the cavity, hence the change in repetition frequency of the femtosecond comb. The first results shows the resolution of the method in the order of 0.1 nm.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2012

Počet záznamů: 1