Počet záznamů: 1

Scanning transmission low-energy electron microscopy

SYSNO ASEP	0367292
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Scanning transmission low-energy electron microscopy
Tvůrce(i)	Müllerová, Ilona (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID} Hovorka, Miloš (UPT-D) Konvalina, Ivo (UPT-D)_{RID, ORCID, SAI} Unčovský, M. (CZ) Frank, Luděk (UPT-D)_{RID, SAI, ORCID}
Celkový počet autorů	5
Zdroj.dok.	IBM Journal of Research and Development - ISSN 0018-8646 Roč. 55, č. 4 (2011), 2:1-6
Poč.str.	6 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	TEM ; STEM ; SEM
Vědní obor RIV	JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
CEP	IAA100650902 GA AV ČR - Akademie věd
	ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
UT WOS	000301500600015
EID SCOPUS	81255143912
DOI	10.1147/JRD.2011.2156190
Anotace	We discuss an extension to the transmission mode of the cathode-lens-equipped scanning electron microscope, enabling operation down to the lowest energies of electrons. Penetration of electrons through free-standing ultrathin films is examined along the full energy scale, and the contribution of the secondary electrons (SEs), released near the bottom surface of the sample, is shown, enhancing the apparent transmissivity of the sample to more than 100%. Provisional filtering off of the SEs, providing the dark-field signal of forward-scattered electrons, was made using an annular 3-D adjustable detector inserted below the sample. Demonstration experiments were performed on the graphene flakes and on a 3-nm-thick carbon film. Electron penetrability at the lowest energies was measured on the graphene sample.
Pracoviště	Ústav přístrojové techniky
Kontakt	Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
Rok sběru	2012

Počet záznamů: 1