Počet záznamů: 1
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
- 1.
SYSNO ASEP 0366182 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates Tvůrce(i) Holovský, Jakub (FZU-D) RID, ORCID
Dagkaldiran, U. (DE)
Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
Purkrt, Adam (FZU-D) RID
Ižák, Tibor (FZU-D) RID
Poruba, Aleš (FZU-D) RID
Vaněček, Milan (FZU-D) RIDZdroj.dok. Physica Status Solidi A : Applications and Materials Science. - : Wiley - ISSN 1862-6300
Roč. 207, č. 9 (2010), s. 578-581Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova solar cell ; silicon ; spectroscopy Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GD202/09/H041 GA ČR - Grantová agentura ČR GA202/09/0417 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000276339800017 DOI 10.1002/pssa.200982890 Anotace Fourier transform photocurrent spectroscopy(FTPS)is used as an inspection method for hydrogenated amorphous silicon(a-Si:H)thin films deposited on aluminium foil and aluminium foil coated with rough SnO2. These structures are part of roll-to-roll solar cell fabrication process. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2015
Počet záznamů: 1