Počet záznamů: 1
Vacuum-ultraviolet ellipsometry spectra and structural properties of Pb(Zr,Ti)O.sub.3./sub. films
- 1.
SYSNO ASEP 0361461 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Vacuum-ultraviolet ellipsometry spectra and structural properties of Pb(Zr,Ti)O3 films Tvůrce(i) Suchaneck, G. (DE)
Chvostová, Dagmar (FZU-D) RID, SAI, ORCID
Kousal, J. (CZ)
Železný, Vladimír (FZU-D) RID, ORCID
Lynnyková, Anna (FZU-D) RID
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Gerlach, G. (DE)
Dejneka, Alexandr (FZU-D) RID, ORCIDZdroj.dok. Thin Solid Films. - : Elsevier - ISSN 0040-6090
Roč. 519, č. 9 (2011), s. 2885-2888Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CH - Švýcarsko Klíč. slova PZT film ; vacuum-ultraviolet ellipsometry ; film structure ; optical properties Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GC202/09/J017 GA ČR - Grantová agentura ČR KAN301370701 GA AV ČR - Akademie věd 1M06002 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA202/08/1009 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000289174200070 DOI 10.1016/j.tsf.2010.11.076 Anotace In this work we focus on well known interband transitions for the perovskite materials, 2p-->dγ, located in VUV spectral region. Dielectric functions of chemical solution deposited and sputtered PZT were obtained in the spectral range 1-8.8 eV. Differences between the absorption maxima for chemical solution deposited and sputtered PbZrxTi1-xO3 samples near Kahn-Leyendecker 2p-->dγ interband transition were found and are interpreted by change of interatomic distances. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1