Počet záznamů: 1
Development of EOD for the design in electron and ion microscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0358560 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Development of EOD for the design in electron and ion microscopy Tvůrce(i) Zlámal, J. (CZ)
Lencová, Bohumila (UPT-D) RID, SAICelkový počet autorů 2 Zdroj.dok. Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A. - : Elsevier - ISSN 0168-9002
Roč. 654, č. 1 (2011), s. 278-282Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. NL - Nizozemsko Klíč. slova finite element method ; tolerancing ; user interface Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP IAA100650805 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) UT WOS 000292713900053 DOI 10.1016/j.nima.2010.12.198 Anotace The paper surveys new features of the EOD program, a complete workplace for the design of electron and ion microscopes. The extensions of the program for space charge computations, interaction with gases in the specimen chamber and misalignments are handled as plug-ins, keeping the program as a single unit. The current status of the tolerancing plug-in is described in more detail. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2012
Počet záznamů: 1