Počet záznamů: 1
Microstrains and x-ray diffraction
- 1.
SYSNO ASEP 0355955 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Microstrains and x-ray diffraction Tvůrce(i) Drahokoupil, J. (CZ)
Čerňanský, Marian (FZU-D) RID
Kolařík, K. (CZ)Zdroj.dok. Proceedings of 47th international Scientific conference Experimental Stress Analysis 2009. - Liberec : Technical University of Liberec, 2009 / Marvalová B. ; Petriková I. ; Čapek L. - ISBN 978-80-7372-483-2 Rozsah stran s. 94-98 Poč.str. 5 s. Akce Experimental Stress Analysis 2009 Datum konání 08.06.2009-11.06.2009 Místo konání Sychrov Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova microstrain ; x-ray diffraction ; single line ; Voigt function Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA106/07/0805 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000274790600014 Anotace An attention is paid to the microstrain – its effect on X-ray diffraction and a method to its estimation from a broadening of diffraction lines. Especially, the single line Voigt function method is presented for the estimation of the microstrain and crystallite size from a single diffraction line. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1