Počet záznamů: 1
Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon"
- 1.
SYSNO ASEP 0355032 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve SCOPUS Název Comment on "Current routes in hydrogenated microcrystalline silicon" Tvůrce(i) Vetushka, Aliaksi (FZU-D) RID, ORCID
Fejfar, Antonín (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Ledinský, Martin (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 6 Zdroj.dok. Physical Review. B - ISSN 1098-0121
Roč. 81, č. 23 (2010), 237301/1-237301/4Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova conductive atomic force microscopy ; oxidation ; microcrystalline silicon Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA100100902 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) EID SCOPUS 77956321290 DOI https://doi.org/10.1103/PhysRevB.81.237301 Anotace We show that local currents observed by the conductive atomic force microscopy (C-AFM) of silicon thin films measured in ambient atmosphere are generally limited by surface oxide, either native or created by the measurement itself in a process of local anodic oxidation. The tip-induced oxidation changes character of the local current maps, either in repeated scans or even in the first scan of a pristine surface. In particular, the preoxidation of the neighboring scan lines leads to the appearance of grain edges as conductive rings, previously interpreted as an evidence of the main transport route at the grain boundaries in microcrystalline silicon. We also show that stripping of the surface oxide by HF etch restores the local currents to the values corresponding to C-AFM done in ultra-high-vacuum on in situ deposited samples. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1