Počet záznamů: 1
Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon
- 1.
SYSNO ASEP 0354945 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon Tvůrce(i) Verveniotis, Elisseos (FZU-D) RID
Rezek, Bohuslav (FZU-D) RID, ORCID
Šípek, Emil (FZU-D)
Stuchlík, Jiří (FZU-D) RID, ORCID
Kočka, Jan (FZU-D) RID, ORCID, SAICelkový počet autorů 5 Zdroj.dok. Thin Solid Films. - : Elsevier - ISSN 0040-6090
Roč. 518, č. 21 (2010), s. 5965-5970Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CH - Švýcarsko Klíč. slova amorphous materials ; atomic force microscopy (AFM) ; conductivity ; crystallization ; nanostructures ; silicon ; nickel Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GD202/09/H041 GA ČR - Grantová agentura ČR LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000280989100016 DOI 10.1016/j.tsf.2010.05.107 Anotace Role of current profiles and atomic force microscope tips on local electric crystallization of amorphous silicon. Various types of conductive tips in atomic force microscope (AFM) are used to localize field-enhanced metal-induced solid phase crystallization (FE-MISPC) of amorphous silicon at room temperature down to nanoscale dimensions. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1