Počet záznamů: 1

Local electrostatic charging differences of sub-100 nm nanocrystalline diamond films

SYSNO ASEP	0354896
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Local electrostatic charging differences of sub-100 nm nanocrystalline diamond films
Tvůrce(i)	Verveniotis, Elisseos (FZU-D)_RID Čermák, Jan (FZU-D)_{RID, SAI, ORCID} Kromka, Alexander (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Ledinský, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Remeš, Zdeněk (FZU-D)_{RID, ORCID} Rezek, Bohuslav (FZU-D)_{RID, ORCID}
Celkový počet autorů	6
Zdroj.dok.	Physica Status Solidi A : Applications and Materials Science. - : Wiley - ISSN 1862-6300 Roč. 207, č. 9 (2010), s. 2040-2044
Poč.str.	5 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	DE - Německo
Klíč. slova	AFM ; KFM ; SEM ; NCD ; Raman ; charging
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	GD202/09/H041 GA ČR - Grantová agentura ČR
	LC06040 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
	KAN400100701 GA AV ČR - Akademie věd
	LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
UT WOS	000282766100006
DOI	10.1002/pssa.201000014
Anotace	Local electrostatic charging differences of sub-100 nm nanocrystalline diamond films. Atomic force microscopy (AFM) is used to induce electrostatically charged micrometer-sized patterns on the diamond films.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2011

Počet záznamů: 1