Počet záznamů: 1  

Software for automated testing and characterization of CCDs for Large Synoptic Survey Telescope (LSST)

  1. 1.
    SYSNO ASEP0354854
    Druh ASEPC - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
    Zařazení RIVD - Článek ve sborníku
    NázevSoftware for automated testing and characterization of CCDs for Large Synoptic Survey Telescope (LSST)
    Tvůrce(i) Prouza, Michael (FZU-D) RID, ORCID
    Kubánek, Petr (FZU-D) RID
    O´Connor, P.O. (US)
    Kotov, I. (US)
    Frank, J. (US)
    Antilogus, P. (FR)
    Zdroj.dok.Software and Cyberinfrastructure for Astronomy. - Bellingham : SPIE, 2010 / Radziwill N.M. ; Bridger A. - ISBN 9780819482303
    Rozsah stran77403n/1-77403n/10
    Poč.str.10 s.
    AkceSoftware and Cyberinfrastructure for Astronomy
    Datum konání27.06.2010-04.07.2010
    Místo konáníSan Diego
    ZeměUS - Spojené státy americké
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovasky survey ; survey telescope ; LSST ; CCD characterization ; CCD testing ; software ; robotic telescopes
    Vědní obor RIVBF - Elementární částice a fyzika vys. energií
    CEPME09052 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z10100502 - FZU-D (2005-2011)
    AnotaceWe present the latest modifications of the open source observatory control software package RTS2. New features were developed specifically for the automated testing of CCD chips for the mosaic camera of the Large Synoptic Survey Telescope. Currently, the system is in operation at Brookhaven National Laboratory in Upton, USA and at Laboratoire de Physique Nucleaire et des Hautes Energies in Paris, France. RTS2 software is currently used to characterize the sensors from various vendors and will be used first for selection and then for testing of production CCD sensors. With our system we are able to automatically obtain a series of images for analysis. Data is used to study many aspects of sensor characteristics, including wavelength dependence of quantum efficiency, the dark current, and the linearity of the CCD response as a function of back-bias voltage and temperature. We also can measure a point spread function over the whole surface of the CCD sensors.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.