Počet záznamů: 1
Optical absorption losses in metal layers used in thin film solar cells
- 1.
SYSNO ASEP 0354029 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Optical absorption losses in metal layers used in thin film solar cells Tvůrce(i) Remeš, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID
Holovský, Jakub (FZU-D) RID, ORCID
Purkrt, Adam (FZU-D) RID
Ižák, Tibor (FZU-D) RID
Poruba, Aleš (FZU-D) RID
Vaněček, Milan (FZU-D) RID
Dagkaldiran, Ü. (DE)
Yates, H.M. (GB)
Evans, P. (GB)
Sheel, D.W. (GB)Zdroj.dok. Physica Status Solidi A : Applications and Materials Science. - : Wiley - ISSN 1862-6300
Roč. 207, č. 9 (2010), s. 2170-2173Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. DE - Německo Klíč. slova solar cells ; PDS ; dielectric function ; Landau-Lifshitz Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GA202/09/0417 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000282766100031 DOI https://doi.org/10.1002/pssa.200925432 Anotace We apply optical transmittance & reflectance spectroscopy, photothermal deflection spectroscopy (PDS) and laser calorimetry (LC) to evaluate optical absorption losses at rough interface between thin conductive oxide (TCO) and metal films used as backreflectors and electrical contacts in thin film solar cells. The paper proposes a simple method how to model the dielectric function of the rough metal layer used in thin film solar cells. We show that the rough metal layer optically behaves as a semi-infinite layer with modified dielectric function calculated by Landau-Lifshitz-Looyenga model from the dielectric function of a smooth metal, the dielectric function of TCO and one unknown parameter that needs to be fitted. This greatly simplifies modelling the optical properties of thin film solar cells. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1