Počet záznamů: 1
Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science
- 1.
SYSNO ASEP 0352510 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Scanning Low Energy Electron Microscopy - A PowerfuleTool for Materials Science Tvůrce(i) Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Matsuda, K. (JP)
Watanabe, K. (JP)
Mizutani, M. (JP)
Narukawa, Y. (JP)
Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 7 Zdroj.dok. Proceedings of 5th Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology. - Toyama : University of Toyama, 2010 - ISBN 978-4-9903248-2-7 Rozsah stran s. 77-78 Poč.str. 2 s. Akce JCNCS2010 /5./ Japan-China-Norway Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology Datum konání 12.09.2010-15.09.2010 Místo konání Toyama Země JP - Japonsko Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. JP - Japonsko Klíč. slova scanning low energy electron microscopy ; AZ 91 ; AZ 96 ; UFG Al ; matal matrix composite materials Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Progress in materials research is inseparably connected to the development of new analytical methods, which make it possible to examine. The aging hardness the structures of materials at high spatial resolution and sensitivity. A very promising technique for study the microstructure of advanced materials is the scanning low energy electron microscopy (SLEEM). Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1