Počet záznamů: 1
Interaction of short x-ray pulses with low-Z x-ray optics materials at the LCLS free-electron laser
- 1.
SYSNO ASEP 0352022 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Interaction of short x-ray pulses with low-Z x-ray optics materials at the LCLS free-electron laser Tvůrce(i) Hau-Riege, S.P. (US)
London, R.A. (US)
Graf, A. (US)
Baker, S. L. (US)
Soufli, R. (US)
Sobierajski, R. (PL)
Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Gaudin, J. (DE)
Krzywinski, J. (US)
Moeller, S. (US)
Messerschmidt, M. (US)
Bozek, J. (US)
Bostedt, C. (US)Zdroj.dok. Optics Express. - : Optical Society of America - ISSN 1094-4087
Roč. 18, č. 23 (2010), s. 23933-23938Poč.str. 8 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova x-ray optics ; optical materials ; x-ray free electron laser Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAAX00100903 GA AV ČR - Akademie věd ME10046 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000283940900064 DOI https://doi.org/10.1364/OE.18.023933 Anotace Materials used for hard x-ray-free-electron laser (XFEL) optics must withstand high-intensity x-ray pulses. The advent of the Linac Coherent Light Source has enabled us to expose candidate optical materials, such as bulk B4C and SiC films, to 0.83 keV XFEL pulses with pulse energies between 1 μJ and 2 mJ to determine short-pulse hard x-ray damage thresholds. The fluence required for the onset of damage for single pulses is around the melt fluence and slightly lower for multiple pulses. We observed strong mechanical cracking in the materials, which may be due to the larger penetration depths of the hard x-rays. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1