Počet záznamů: 1  

Interaction of short x-ray pulses 
with low-Z x-ray optics materials 
at the LCLS free-electron laser

  1. 1.
    SYSNO ASEP0352022
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevInteraction of short x-ray pulses 
with low-Z x-ray optics materials 
at the LCLS free-electron laser
    Tvůrce(i) Hau-Riege, S.P. (US)
    London, R.A. (US)
    Graf, A. (US)
    Baker, S. L. (US)
    Soufli, R. (US)
    Sobierajski, R. (PL)
    Burian, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID
    Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
    Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
    Gaudin, J. (DE)
    Krzywinski, J. (US)
    Moeller, S. (US)
    Messerschmidt, M. (US)
    Bozek, J. (US)
    Bostedt, C. (US)
    Zdroj.dok.Optics Express. - : Optical Society of America - ISSN 1094-4087
    Roč. 18, č. 23 (2010), s. 23933-23938
    Poč.str.8 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.US - Spojené státy americké
    Klíč. slovax-ray optics ; optical materials ; x-ray free electron laser
    Vědní obor RIVBH - Optika, masery a lasery
    CEPKAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd
    LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    IAAX00100903 GA AV ČR - Akademie věd
    ME10046 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd
    CEZAV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000283940900064
    DOI10.1364/OE.18.023933
    AnotaceMaterials used for hard x-ray-free-electron laser (XFEL) optics must withstand high-intensity x-ray pulses. The advent of the Linac Coherent Light Source has enabled us to expose candidate optical materials, such as bulk B4C and SiC films, to 0.83 keV XFEL pulses with pulse energies between 1 μJ and 2 mJ to determine short-pulse hard x-ray damage thresholds. The fluence required for the onset of damage for single pulses is around the melt fluence and slightly lower for multiple pulses. We observed strong mechanical cracking in the materials, which may be due to the larger penetration depths of the hard x-rays.
    PracovištěFyzikální ústav
    KontaktKristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.