Počet záznamů: 1

3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)

SYSNO ASEP	0351718
Druh ASEP	C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.)
Zařazení RIV	D - Článek ve sborníku
Název	3D characterization of material structure using scanning electron microscopy (SEM) and focused ion beam (FIB)
Tvůrce(i)	Hradilová, Monika (FZU-D) Jäger, Aleš (FZU-D)_{RID, ORCID} Lejček, Pavel (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI}
Zdroj.dok.	Metal 2010 - 19th international conference on metallurgy and materials. - Ostrava : Tanger s.r.o, 2010 - ISBN 978-80-87294-15-4
Rozsah stran	s. 152-153
Poč.str.	2 s.
Akce	Metal 2010
Datum konání	18.05.2010-20.05.2010
Místo konání	Rožnov pod Radhoštěm
Země	CZ - Česká republika
Typ akce	WRD
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	CZ - Česká republika
Klíč. slova	scanning electron microscopy ; focused ion beam ; 3D characterization
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEZ	AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011)
Anotace	The possibilities of analysis can be enhanced by utilizing focused ion beam (FIB). The FIB instrument allows revealing the structure in the third dimension by controlled and precise milling of the material. In combination with electron beam and suitable detector is possible to describe crystallography (EBSD) or chemical composition (EDS) etc. in three dimensions (3D). Thus, it is feasible to define real size, shape and distribution of microstructure features such as grains, grain boundaries, phases, precipitates and micropores.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2011

Počet záznamů: 1