Počet záznamů: 1
High frequency stability semiconductor laser sources at 760 nm wavelength
- 1.
SYSNO ASEP 0350817 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název High frequency stability semiconductor laser sources at 760 nm wavelength Tvůrce(i) Mikel, Břetislav (UPT-D) RID, SAI
Buchta, Zdeněk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
Lazar, Josef (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Číp, Ondřej (UPT-D) RID, SAI, ORCIDCelkový počet autorů 4 Zdroj.dok. WSEAS Transactions on Circuits and Systems - ISSN 1109-2734
Roč. 9, č. 10 (2010), s. 650-659Poč.str. 10 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova absolute measurement ; DFB laser diode ; laser interferometry ; tunable laser diodes ; VCSEL laser diode Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP 2A-1TP1/127 GA MPO - Ministerstvo průmyslu a obchodu ED0017/01/01 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy GP102/09/P293 GA ČR - Grantová agentura ČR GP102/09/P630 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace Measurement with nanometer resolution is required for the next advance in nanotechnology. Especially the non contacting methods of measurement are very.promising. We present the set-up of the laser interferometer with nanometer resolution. We developed three types of laser sources especially for using in laser interferometry and absolute laser interferometry. The standard He-Ne laser source for conventional laser interferometry techniques can be replaced by one of these tree types of laser sources. We used Vertical Surface Emitting Laser (VCSEL) and Distributed Feed-Back (DFB) laser diodes to design these laser sources. For these laser diodes we developed several methods to improvement their wavelength stability and tunability by fiber Bragg gratings (FBGs). We developed simulation method to calculation of arbitrary fiber grating (apodized, chirp etc.) with high precision by combination of methods based on layered dielectric media (LDM) and transfer matrix. Pracoviště Ústav přístrojové techniky Kontakt Martina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1