Počet záznamů: 1
Self Heating of an Atomic Force Microscope
- 1.
SYSNO ASEP 0350712 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Self Heating of an Atomic Force Microscope Tvůrce(i) Kučera, Ondřej (URE-Y) RID Celkový počet autorů 1 Zdroj.dok. Acta Polytechnica. - : České vysoké učení technické - ISSN 1210-2709
Roč. 20, č. 1 (2010), s. 9-11Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova atomic force microscopy Vědní obor RIV JB - Senzory, čidla, měření a regulace CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) Anotace Atomic force microscopy (AFM) is a sensitive technique susceptible to unwanted inluences, such as thermal noise, vibrational noise, etc. Although, tools that protect AFM against external noise have been developed and are widely used, there are still many sources of inherent noise. One of them is selfheating of the apparatus. This paper deals with self{heating of the AFM using an optical lever. This phenomenon is shown to be substantial in particular after activation of the microscope. The inluence on the intrinsic contact noise of AFM's is also examined. Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1