Počet záznamů: 1  

Raman scattering in silicon disordered by gold ion implantation

  1. 1.
    SYSNO ASEP0346873
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevRaman scattering in silicon disordered by gold ion implantation
    Tvůrce(i) Lavrentiev, Vasyl (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Vacík, Jiří (UJF-V) RID, ORCID, SAI
    Vorlíček, Vladimír (FZU-D) RID
    Voseček, Václav (UJF-V) RID
    Zdroj.dok.Physica Status Solidi B : Basic Solid State Physics. - : Wiley - ISSN 0370-1972
    Roč. 247, č. 8 (2010), s. 2022-2026
    Poč.str.5 s.
    Akce8th International Conference on Optics of Surfaces and Interfaces (OSI-VIII)
    Datum konání07.09.2009-11.09.2009
    Místo konáníIschia
    ZeměIT - Itálie
    Typ akceWRD
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.DE - Německo
    Klíč. slovaion implantation ; Raman spectra ; Rutherford backscattering spectroscopy
    Vědní obor RIVBM - Fyzika pevných látek a magnetismus
    CEPIAA200480702 GA AV ČR - Akademie věd
    IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd
    KAN400480701 GA AV ČR - Akademie věd
    GA106/09/1264 GA ČR - Grantová agentura ČR
    CEZAV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011)
    AV0Z10100520 - FZU-D (2005-2011)
    UT WOS000281092600031
    DOI10.1002/pssb.200983932
    AnotaceSi (111) covered by a 250-nm thick SiO2 surface layer has been disordered through implantation of 3.035 MeV gold ions within broad range of fluences from 1 x 10(13) ions/cm(2) to 1 x 10(16) ions/cm(2). Raman spectroscopy (514.5 nm laser) was applied for characterization of the silicon disordering. Variation of the Raman spectra of silicon after low-fluence implantation (fluences lower than 5 x 10(14) ions/cm(2)) in the vicinity of the transverse optical phonon (1TO) peak reflects the coexistence of bulk Si crystals (c-Si) and Si nanocrystals (nc-Si) in the implanted layer. Implantation with higher fluences yields only the stable 470 cm(-1) 1TO peak, corresponding to formation of amorphous phase (a-Si), in this region of the spectra. Detailed analysis of the silicon disorder was performed through calculation of the transverse acoustical phonon (1TA) peak area.
    PracovištěÚstav jaderné fyziky
    KontaktMarkéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228
    Rok sběru2011
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.