Počet záznamů: 1
Optimization of a bent perfect Si(111) monochromator at a small take-off angle for use in a stress instrument
- 1.
SYSNO ASEP 0346634 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Optimization of a bent perfect Si(111) monochromator at a small take-off angle for use in a stress instrument Tvůrce(i) Seong, B. S. (KR)
Em, V. (KR)
Mikula, Pavol (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Šaroun, Jan (UJF-V) RID, ORCID, SAI
Kang, M.H. (KR)Zdroj.dok. Journal of Applied Crystallography. - : Wiley - ISSN 0021-8898
Roč. 43, č. 3 (2010), s. 654-658Poč.str. 5 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova SENSITIVE NEUTRON DETECTOR ; MOSAIC CRYSTALS ; DIFFRACTION Vědní obor RIV BG - Jaderná, atomová a mol. fyzika, urychlovače CEP GAP204/10/0654 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10480505 - UJF-V (2005-2011) UT WOS 000277392600035 DOI 10.1107/S0021889810008551 Anotace The reflectivity and resolution properties of focusing cylindrically bent perfect crystal Si(111) monochromators of different diffraction geometries were tested with the aim of evaluating their possible use in a stress instrument with an unusually small take-off angle (2 theta(M) similar or equal to 30 degrees). The experiments showed that an Si crystal with reflecting planes (111) in the symmetric diffraction geometry provides a maximum figure of merit for accuracy in the peak position that is comparable to that achieved previously from an optimized Si(220) monochromator at 2 theta(M) similar or equal to 55 degrees. Pracoviště Ústav jaderné fyziky Kontakt Markéta Sommerová, sommerova@ujf.cas.cz, Tel.: 266 173 228 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1