Počet záznamů: 1
Films of Metal Nanoparticles Deposited on Semiconductors by Electrophoresis: Technology and Characterization
- 1.
SYSNO ASEP 0346028 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Films of Metal Nanoparticles Deposited on Semiconductors by Electrophoresis: Technology and Characterization Tvůrce(i) Žďánský, Karel (URE-Y)
Zavadil, Jiří (URE-Y) RID
Kacerovský, Pavel (URE-Y)
Kostka, František (URE-Y)
Lorinčík, Jan (URE-Y)
Černohorský, O. (CZ)
Fojtík, A. (CZ)
Müller, M. (CZ)
Kostejn, M. (CZ)Zdroj.dok. NANOCON 2009 Conference Proceedings. - Ostrava : TANGER, 2009 - ISBN 978-80-87294-13-0 Rozsah stran s. 171-178 Poč.str. 8 s. Akce NANOCON 2009 Datum konání 20.10.2009-22.10.2009 Místo konání Rožnov pod Radhoštěm Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova semiconductor devices ; nanostructures ; sensors Vědní obor RIV JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika CEP KAN401220801 GA AV ČR - Akademie věd GA102/09/1037 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20670512 - URE-Y (2005-2011) UT WOS 000277025600025 Anotace Layers of nanoparticles in micelle enclosures were deposited on InP substrates by electrophoresis from isooctane colloid solutions containing Pd or Ag nanoparticles. The layers were investigated by SIMS, low-temperature photoluminescence spectroscopy and topography, absorption spectroscopy, Raman spectroscopy and sensitivity to hydrogen. Photoluminescence of InP was enhanced by the layers of Pd or Ag nanoparticles. Schottky barriers made on the n-type InP with layers containing Pd nanoparticles showed significant sensitivity to hydrogen in contrast to those containing Ag nanoparticles. Pracoviště Ústav fotoniky a elektroniky Kontakt Petr Vacek, vacek@ufe.cz, Tel.: 266 773 413, 266 773 438, 266 773 488 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1