Počet záznamů: 1
Elektronová mikroskopie, mikroanalýza a difrakce na ÚMCH AV ČR
- 1.
SYSNO ASEP 0344043 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Ostatní články Název Elektronová mikroskopie, mikroanalýza a difrakce na ÚMCH AV ČR Překlad názvu Electron microscopy, microanalysis and diffraction at the Institute of Macromolecular Chemistry, Academy of Sciences of the Czech republic Tvůrce(i) Šlouf, Miroslav (UMCH-V) RID, ORCID
Pavlova, Ewa (UMCH-V) RID
Králová, Daniela (UMCH-V)
Hromádková, Jiřina (UMCH-V) RID
Vlková, Helena (UMCH-V)
Lapčíková, Monika (UMCH-V) RIDZdroj.dok. Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology. - : Czech and Slovak Crystallographic Association - ISSN 1211-5894
Roč. 17, 2a (2010), k46-k49Poč.str. 4 s. Akce Struktura 2010 Datum konání 14.06.2010-17.06.2010 Místo konání Soláň Země CZ - Česká republika Typ akce EUR Jazyk dok. cze - čeština Země vyd. CZ - Česká republika Klíč. slova introduction to electron microscopy ; electron spectroscopy ; electron diffraction Vědní obor RIV EB - Genetika a molekulární biologie CEP KAN200520704 GA AV ČR - Akademie věd GAP205/10/0348 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z40500505 - UMCH-V (2005-2011) Anotace Příspěvek popisuje použití elektronové mikroskopie, elektronové spektroskopie a elektronové difrakce pro studium mikrokrystalů a nanokrystalů. Zabývá se následujícími režimy rastrovací (SEM) a transmisní (TEM) elektronové mikroskopie: SEM/SE (secondary electrons imaging v SEM), TEM/BF (bright field imaging v TEM) SEM/EDX, TEM/EDX (energy dispersive analysis of X-rays v SEM a TEM), TEM/SAED (selected area electron diffraction v TEM). Překlad anotace The contribution describes application of electron microscopy on microcrystals and nanocrystals. It deals with the following modes of scanning (SEM) and transmission electron microscopy (TEM): SEM/SE (secondary electrons imaging in SEM), TEM/BF (bright field imaging in TEM) SEM/EDX, TEM/EDX (energy dispersive analysis of X-rays in SEM and TEM), TEM/SAED (selected area electron diffraction in TEM). Pracoviště Ústav makromolekulární chemie Kontakt Eva Čechová, cechova@imc.cas.cz ; Tel.: 296 809 358 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1