Počet záznamů: 1
Novel approach to material evaluation of thin surface layers by resonant ultrasound spectroscopy
- 1.
SYSNO ASEP 0342304 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Novel approach to material evaluation of thin surface layers by resonant ultrasound spectroscopy Tvůrce(i) Landa, Michal (UT-L) RID
Růžek, Michal (UT-L)
Sedlák, Petr (UT-L) RID, ORCID
Seiner, Hanuš (UT-L) RID, ORCID
Bodnárová, Lucie (UT-L) RID, ORCID
Zídek, Jan (UT-L) RIDZdroj.dok. Journal of Physics: Conference Series. - : Institute of Physics Publishing - ISSN 1742-6588
Roč. 214, č. 1 (2010), s. 1-5Poč.str. 5 s. Akce International Conference on Photoacoustic and Photothermal Phenomena /15./ Datum konání 19.07.2009-23.07.2009 Místo konání Leuven Země BE - Belgie Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. BE - Belgie Klíč. slova resonant ultrasound spectroscopy (RUS) ; thin films ; DLC Vědní obor RIV BI - Akustika a kmity CEP GA101/09/0702 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z20760514 - UT-L (2005-2011) UT WOS 000287820700045 DOI 10.1088/1742-6596/214/1/012045 Anotace The laser-based modal resonant ultrasound spectroscopy is modified for measurements of thin surface layers on a substrate. This paper describes determination of all in-plane elastic properties of thin layers from small resonant frequency shifts of substrate induced by deposition of the layer. Pracoviště Ústav termomechaniky Kontakt Marie Kajprová, kajprova@it.cas.cz, Tel.: 266 053 154 ; Jana Lahovská, jaja@it.cas.cz, Tel.: 266 053 823 Rok sběru 2011
Počet záznamů: 1