Počet záznamů: 1  

Grain Contrast Imaging in UHV SLEEM

  1. 1.
    SYSNO ASEP0340746
    Druh ASEPJ - Článek v odborném periodiku
    Zařazení RIVJ - Článek v odborném periodiku
    Poddruh JČlánek ve WOS
    NázevGrain Contrast Imaging in UHV SLEEM
    Tvůrce(i) Mikmeková, Šárka (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Hovorka, Miloš (UPT-D)
    Müllerová, Ilona (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Man, O. (CZ)
    Pantělejev, L. (CZ)
    Frank, Luděk (UPT-D) RID, SAI, ORCID
    Celkový počet autorů6
    Zdroj.dok.Materials Transactions. - : Japan Institute of Metals and Materials - ISSN 1345-9678
    Roč. 51, č. 2 (2010), s. 292-296
    Poč.str.5 s.
    Jazyk dok.eng - angličtina
    Země vyd.JP - Japonsko
    Klíč. slovascanning low energy electron microscopy ; electron backscatter diffraction (EBSD) ; grain contrast ; ultra-fine grained materials
    Vědní obor RIVJA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
    CEPOE08012 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy
    CEZAV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011)
    UT WOS000276538900019
    EID SCOPUS77949718926
    DOI10.2320/matertrans.MC200919
    AnotaceStudy of the grain structure in the equal channel angular pressing processed copper by means of the cathode lens equipped ultrahigh vacuum scanning low energy electron microscope is reported. The grain contrast was found achieving its maximum at electron energies below about 30 eV where it alternated its sign and exhibited dependence on electron energy specific for the grain orientation. The energy dependence of the electron reflectance seemed to be capable of serving as a fingerprint enabling determination of the crystalline orientation. In the cathode lens mode at hundreds of eV fine details of the microstructure are also observable including twins and low angle grain boundaries. This is explained by acquisition of high-angle backscattered slow electrons, normally not acquired in standard scanning electron microscopes. The very low energy electron reflectance is promising as an alternative to the EBSD method owing to its high resolution and fast data acquisition.
    PracovištěÚstav přístrojové techniky
    KontaktMartina Šillerová, sillerova@ISIBrno.Cz, Tel.: 541 514 178
    Rok sběru2010
Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.