Počet záznamů: 1
New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors
- 1.
SYSNO ASEP 0339531 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors Tvůrce(i) Sadewasser, S. (DE)
Jelínek, Pavel (FZU-D) RID, ORCID
Fang, Ch.-K. (JP)
Custance, Ó. (JP)
Yamada, Y. (JP)
Sugimoto, Y. (JP)
Abe, M. (JP)
Morita, S. (JP)Zdroj.dok. Physical Review Letters. - : American Physical Society - ISSN 0031-9007
Roč. 103, č. 26 (2009), 266103/1-266103/4Poč.str. 4 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova KPFM ; atomic force microscopy ; DFT ; atomic resolution ; semiconductor surface Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/09/0545 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000273232200029 DOI https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.103.266103 Anotace We present dynamic force-microscopy experiment and first-principles simulations that contribute to clarify the origin of atomic-scale contrast in Kelvin-probe force-microscopy (KPFM) images of semiconductor surfaces. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1