New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0339531
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe force-microscopy imaging of semiconductors
Tvůrce(i)	Sadewasser, S. (DE) Jelínek, Pavel (FZU-D)_{RID, ORCID} Fang, Ch.-K. (JP) Custance, Ó. (JP) Yamada, Y. (JP) Sugimoto, Y. (JP) Abe, M. (JP) Morita, S. (JP)
Zdroj.dok.	Physical Review Letters. - : American Physical Society - ISSN 0031-9007 Roč. 103, č. 26 (2009), 266103/1-266103/4
Poč.str.	4 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	US - Spojené státy americké
Klíč. slova	KPFM ; atomic force microscopy ; DFT ; atomic resolution ; semiconductor surface
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	GA202/09/0545 GA ČR - Grantová agentura ČR
	IAA100100905 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
UT WOS	000273232200029
DOI	10.1103/PhysRevLett.103.266103
Anotace	We present dynamic force-microscopy experiment and first-principles simulations that contribute to clarify the origin of atomic-scale contrast in Kelvin-probe force-microscopy (KPFM) images of semiconductor surfaces.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2010

Počet záznamů: 1