Počet záznamů: 1

Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces

SYSNO ASEP	0336680
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Core level photoemission and STM characterization of Ta/Si(111)-7x7 interfaces
Překlad názvu	Fotoemise z vnitřních hladin a STM charakterizace rozhraní Ta/Si(111)-7x7
Tvůrce(i)	Shukrynau, Pavel (FZU-D) Dudr, Viktor (FZU-D) Švec, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID} Vondráček, Martin (FZU-D)_{RID, ORCID} Mutombo, Pingo (FZU-D)_{RID, ORCID} Skála, T. (IT) Šutara, F. (CZ) Matolín, V. (CZ) Prince, K. C. (IT) Cháb, Vladimír (FZU-D)_{RID, ORCID}
Celkový počet autorů	10
Zdroj.dok.	Surface Science. - : Elsevier - ISSN 0039-6028 Roč. 603, č. 3 (2009), s. 469-476
Poč.str.	8 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	NL - Nizozemsko
Klíč. slova	tantalum ; silicon ; silicide ; aAdsorption ; photoelectron spectroscopy ; scanning tunneling microscopy
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	IAA1010413 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
UT WOS	000263736400009
DOI	10.1016/j.susc.2008.12.003
Anotace	We present the results of scanning tunneling microscopy (STM) and photoemission spectroscopy (PES) of the Ta/Si(111)-7x7 system after deposition of Ta at substrate temperatures from 300 to 1250 K.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2010

Počet záznamů: 1