Počet záznamů: 1
Characterization of the focused beam from a 10-Hz desktop capillary-discharge 46.9-nm laser
- 1.
SYSNO ASEP 0335795 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Characterization of the focused beam from a 10-Hz desktop capillary-discharge 46.9-nm laser Překlad názvu Charakterizace fokusovaného 46,9 nm svazku 10 Hz stolního kapilárního laseru Tvůrce(i) Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Burian, T. (CZ)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Grisham, M. (US)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Heinbuch, S. (US)
Jakubczak, Krzysztof (FZU-D)
Martz, D. (US)
Mocek, Tomáš (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Pira, P. (CZ)
Polan, Jiří (FZU-D)
Rocca, J.J. (US)
Rus, Bedřich (FZU-D) ORCID
Sobota, Jaroslav (UPT-D) RID, ORCID, SAI
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAIZdroj.dok. Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II. - Bellingham : SPIE, 2009 / Juha L. ; Bajt S. ; Sobierajski R. - ISSN 0277-786x - ISBN 9780819476357 Rozsah stran 73610o/1-73610o/8 Poč.str. 8 s. Akce Damage to VUV, EUV, and X-Ray Optics II Datum konání 21.04.2009-23.04.2009 Místo konání Prague Země CZ - Česká republika Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova XUV laser ; capillary-discharge laser ; annular intensity distribution ; beam imprint ; photo-induced erosion Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAAX00100903 GA AV ČR - Akademie věd GA203/06/1278 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) AV0Z20650511 - UPT-D (2005-2011) Anotace The desktop size capillary-discharge Ne-like Ar laser (CDL) providing 10-μJ nanosecond pulses of coherent 46.9-nm radiation with a repetition rate up to 12 Hz was developed and built at the Colorado State University in Fort Collins and then installed in Prague. The beam of the laser was focused by a spherical mirror covered with Si/Sc multilayer coating onto the surface of poly(methyl methacrylate) - PMMA. Interaction parameters vary by changing the distance between sample surface and beam focus. The samples were exposed to various numbers of shots. Analysis of damaged PMMA by atomic force (AFM) and Nomarski (DIC – differential interference contrast) microscopes allows not only to determine the key characteristics of the focused beam (e.g. Rayleigh’s parameter, focal spot diameter, tight focus position, etc.) but also to investigate mechanisms of the radiation-induced erosion processes. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1