Počet záznamů: 1
Non-thermal desorption/ablation of molecular solids induced by ultra-short soft x-ray pulses
- 1.
SYSNO ASEP 0334060 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Non-thermal desorption/ablation of molecular solids induced by ultra-short soft x-ray pulses Překlad názvu Netepelná desorpce/ablace molekulárních pevných látek indukovaná ultra-krátkými pulsy měkkého rentgenového záření Tvůrce(i) Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Gautier, J. (FR)
Hajdu, J. (SE)
Hau-Riege, S.P. (US)
Jurek, M. (PL)
Krzywinski, J. (PL)
London, R.A. (US)
Papalazarou, E. (FR)
Pelka, J. B. (PL)
Rey, G. (FR)
Sebban, S. (FR)
Sobierajski, R. (PL)
Stojanovic, N. (DE)
Tiedtke, K. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Tschentscher, T. (DE)
Valentin, C. (FR)
Wabnitz, H. (DE)
Zeitoun, P. (FR)Zdroj.dok. Optics Express. - : Optical Society of America - ISSN 1094-4087
Roč. 17, č. 1 (2009), s. 208-217Poč.str. 10 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova x-ray laser ; high-order harmonics ; free-electron laser ; desorption ; ablation ; organic polymer Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000262220300024 DOI 10.1364/OE.17.000208 Anotace We report the first observation of single-shot soft x-ray laser induced desorption occurring below the ablation threshold in a thin layer of poly ( methyl methacrylate) - PMMA. Irradiated by the focused beam from the Free-electron LASer in Hamburg ( FLASH) at 21.7nm, the samples have been investigated by atomic-force microscope (AFM) enabling the visualization of mild surface modifications caused by the desorption. A model describing non-thermal desorption and ablation has been developed and used to analyze single-shot imprints in PMMA. An intermediate regime of materials removal has been found, confirming model predictions. We also report below-threshold multiple-shot desorption of PMMA induced by high-order harmonics (HOH) at 32nm. Short-time exposure imprints provide sufficient information about transverse beam profile in HOH's tight focus whereas long-time exposed PMMA exhibits radiation-initiated surface hardening making the beam profile measurement infeasible. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1