Počet záznamů: 1
Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle
- 1.
SYSNO ASEP 0334026 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Damage of amorphous carbon induced by soft x-ray femtosecond pulses above and below the critical angle Překlad názvu Studium poškozování amorfního uhlíku ozařovaného femtosekundovými pulsy měkkého rentgenového záření nad a pod kritickým úhlem Tvůrce(i) Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Altapova, V. (DE)
Burian, T. (CZ)
Gleeson, A.J. (GB)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Jurek, M. (PL)
Sinn, H. (DE)
Störmer, M. (DE)
Sobierajski, R. (PL)
Tiedtke, K. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Tschentscher, T. (DE)
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Wabnitz, H. (DE)
Gaudin, J. (DE)Zdroj.dok. Applied Physics Letters. - : AIP Publishing - ISSN 0003-6951
Roč. 95, č. 3 (2009), 031111/1-031111/3Poč.str. 3 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova amorphous state ; carbon ; coatings ; graphitisation ; laser beam effects ; nanostructured materials ; phase transformations ; reflectivity Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAAX00100903 GA AV ČR - Akademie věd IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000268405300011 DOI 10.1063/1.3184785 Anotace We present results of damage studies conducted at the Free Electron LASer in Hamburg (FLASH) facility with 13.5 nm (91.8 eV) and 7 nm (177.1 eV) radiations. The laser beam was focused on a sample of 890-nm-thick amorphous carbon coated on a silicon wafer mimicking a x-ray mirror. The fluence threshold for graphitization was determined for different grazing angles above and below the critical angle. The observed angular dependence of F-th is explained by the variation in absorption depth and reflectivity. Moreover, the absorbed local dose needed for the phase transition leading to graphitization is shown to vary with the radiation wavelength. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1