Počet záznamů: 1
Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions
- 1.
SYSNO ASEP 0334006 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions Překlad názvu Mikrofokusace svazku měkkého rentgenového laseru s volnými elektrony pro potřeby výzkum chování hmoty za extrémních podmínek Tvůrce(i) Nelson, A.J. (US)
Toleikis, S. (DE)
Chapman, H. (DE)
Bajt, S. (DE)
Krzywinski, J. (US)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Cihelka, Jaroslav (FZU-D)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Vyšín, Luděk (FZU-D) RID, ORCID
Burian, T. (CZ)
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Fäustlin, R.R. (DE)
Nagler, B. (GB)
Vinko, S.M. (GB)
Whitcher, T. (GB)
Dzelzainis, T. (GB)
Renner, Oldřich (FZU-D) RID, ORCID
Saksl, K. (SK)
Khorsand, A.R. (NL)
Heimann, P.A. (US)
Sobierajski, R. (PL)
Klinger, D. (PL)
Jurek, M. (PL)
Pelka, J. (PL)
Iwan, B. (SE)
Andreasson, J. (SE)
Timneanu, N. (SE)
Fajardo, M. (PT)
Wark, J. S. (GB)
Riley, D. (GB)
Tschentscher, T. (DE)
Hajdu, J. (SE)
Lee, R. W. (US)Zdroj.dok. Optics Express. - : Optical Society of America - ISSN 1094-4087
Roč. 17, č. 20 (2009), s. 18271-18278Poč.str. 8 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova microfocus ; multilayer mirror ; off-axis parabola ; x-ray free-electron laser Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP KAN300100702 GA AV ČR - Akademie věd LC510 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LC528 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy LA08024 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy IAAX00100903 GA AV ČR - Akademie věd IAA400100701 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000270295300112 DOI 10.1364/OE.17.018271 Anotace We have focused a beam (BL3) of FLASH (Free-electron LASer in Hamburg: lambda = 13.5 nm, pulse length 15 fs, pulse energy 10-40 mu J, 5Hz) using a fine polished off-axis parabola having a focal length of 270 mm and coated with a Mo/Si multilayer with an initial reflectivity of 67% at 13.5 nm. The OAP was mounted and aligned with a picomotor controlled six-axis gimbal. Beam imprints on poly(methyl methacrylate) -PMMA were used to measure focus and the focused beam was used to create isochoric heating of various slab targets. Results show the focal spot has a diameter of <= 1 mu m. Observations were correlated with simulations of best focus to provide further relevant information. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1