Počet záznamů: 1
Perspective for high energy density studies on x-ray FELs
- 1.
SYSNO ASEP 0333987 Druh ASEP C - Konferenční příspěvek (mezinárodní konf.) Zařazení RIV D - Článek ve sborníku Název Perspective for high energy density studies on x-ray FELs Překlad názvu Perspektivy fyziky vysokých hustot energie na X-ray FEL Tvůrce(i) Lee, R. W. (US)
Nagler, B. (GB)
Zastrau, U. (DE)
Fäustlin, R. (DE)
Vinko, S.M. (GB)
Whitcher, T. (GB)
Sobierajski, R. (PL)
Krzywinski, J. (US)
Juha, Libor (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Nelson, A.J. (US)
Bajt, S. (DE)
Budil, K. (US)
Cauble, R.C. (US)
Bornath, T. (DE)
Burian, T. (CZ)
Chalupský, Jaromír (FZU-D) RID, ORCID
Chapman, H. (DE)
Cihelka, Jaroslav (UFCH-W)
Döppner, T. (US)
Dzelzainis, T. (GB)
Hájková, Věra (FZU-D) RID, ORCID
Kozlová, Michaela (FZU-D) RID, ORCID
Laarmann, T. (DE)
Lee, H.-J. (US)
Meiwes-Broer, K.-H. (DE)
Mercere, P. (FR)
Murphy, W.J. (GB)
Przystawik, A. (DE)
Riley, D. (GB)
Röpke, G. (DE)
Saksl, K. (SK)
Thiele, R. (DE)
Toleikis, S. (DE)
Uschmann, I. (DE)
Falcone, R.W. (US)
Shepherd, R. (US)
Hastings, J.B. (US)
Wark, J. S. (GB)Celkový počet autorů 55 Zdroj.dok. Soft X-Ray Lasers and Applications VIII. - Bellingham : SPIE, 2009 / Dunn J. ; Tallents G.J. - ISSN 0277-786X - ISBN 9780819477415 Rozsah stran 74510e /1-74510e /7 Poč.str. 7 s. Akce Soft X-Ray Lasers and Applications /8./ Datum konání 04.08.2009-06.08.2009 Místo konání San Diego Země US - Spojené státy americké Typ akce WRD Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova FLASH ; x-ray FEL ; high energy density Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GA202/08/1734 GA ČR - Grantová agentura ČR CEZ AV0Z10100523 - FZU-D (2005-2011) AV0Z40400503 - UFCH-W (2005-2011) Anotace We report on the x-ray absorption of Warm Dense Matter experiment at the FLASH Free Electron Laser (FEL) facility at DESY. The FEL beam is used to produce Warm Dense Matter with soft x-ray absorption as the probe of electronic structure. A multilayer-coated parabolic mirror focuses the FEL radiation, to spot sizes as small as 0.3µm in a ~15fs pulse of containing >1012 photons at 13.5 nm wavelength, onto a thin sample. Silicon photodiodes measure the transmitted and reflected beams, while spectroscopy provides detailed measurement of the temperature of the sample. The goal is to measure over a range of intensities approaching 1018 W/cm2. Experimental results will be presented along with theoretical calculations. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1