Počet záznamů: 1
Spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions in solids: possibilities and limitations
- 1.
SYSNO ASEP 0330031 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions in solids: possibilities and limitations Překlad názvu Aplikace spektrální elipsometrie při studiu fázových přechodů v pevných látkách: možnosti a limity Tvůrce(i) Dejneka, Alexandr (FZU-D) RID, ORCID
Aulika, I. (LT)
Trepakov, Vladimír (FZU-D) RID
Křepelka, Jaromír (FZU-D)
Jastrabík, Lubomír (FZU-D) RID, ORCID
Hubička, Zdeněk (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Lynnyková, Anna (FZU-D) RIDZdroj.dok. Optics Express. - : Optical Society of America - ISSN 1094-4087
Roč. 17, č. 16 (2009), 14322-14338Poč.str. 17 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. US - Spojené státy americké Klíč. slova spectroscopic ellipsometry ; phase transitions ; oxide thin films and crystals ; optics at surfaces Vědní obor RIV BH - Optika, masery a lasery CEP GC202/09/J017 GA ČR - Grantová agentura ČR KJB100100703 GA AV ČR - Akademie věd KAN301370701 GA AV ČR - Akademie věd 1M06002 GA MŠMT - Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy CEZ AV0Z10100522 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000268843700109 DOI 10.1364/OE.17.014322 Anotace The possibilities of in situ spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions investigation in oxide thin films and crystals are examined in this work, along with the use of various parameters calculated from ellipsometric data (band gap energy Eg, refractive index n and surface roughness) together with the directly measured main ellipsometric angles ψ and Δ, for the detection of phase transitions. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1