Počet záznamů: 1
Determination of electron inelastic mean free paths for poly[methyl(phenyl)silylene] films
- 1.
SYSNO ASEP 0328517 Druh ASEP J - Článek v odborném periodiku Zařazení RIV J - Článek v odborném periodiku Poddruh J Článek ve WOS Název Determination of electron inelastic mean free paths for poly[methyl(phenyl)silylene] films Překlad názvu Stanovení středních neelastických volných drah elektronů v tenkých vrstvách polymetylfenyl silylenu Tvůrce(i) Zemek, Josef (FZU-D) RID, ORCID
Houdková, Jana (FZU-D) RID, ORCID
Jiříček, Petr (FZU-D) RID, ORCID, SAI
Jablonski, A. (PL)
Jurka, Vlastimil (FZU-D) RID, ORCID
Kub, Jiří (FZU-D) RID, ORCIDCelkový počet autorů 6 Zdroj.dok. Polymer. - : Elsevier - ISSN 0032-3861
Roč. 50, č. 11 (2009), s. 2445-2450Poč.str. 6 s. Jazyk dok. eng - angličtina Země vyd. GB - Velká Británie Klíč. slova polymer physics ; poly[methyl(phenyl)silylene] ; inelastic mean free path Vědní obor RIV BM - Fyzika pevných látek a magnetismus CEP GA202/09/0428 GA ČR - Grantová agentura ČR IAA100100622 GA AV ČR - Akademie věd CEZ AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011) UT WOS 000266319100013 DOI https://doi.org/10.1016/j.polymer.2009.03.031 Anotace The IMFP of electrons at a poly[methyl(phenyl)silylene] film surface were determined using elastic peak electron spectroscopy and Monte Carlo calculations. Pracoviště Fyzikální ústav Kontakt Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579 Rok sběru 2010
Počet záznamů: 1