Determination of electron inelastic mean free paths for poly[methyl(phenyl)silylene] films

Počet záznamů: 1

1.

SYSNO ASEP	0328517
Druh ASEP	J - Článek v odborném periodiku
Zařazení RIV	J - Článek v odborném periodiku
Poddruh J	Článek ve WOS
Název	Determination of electron inelastic mean free paths for poly[methyl(phenyl)silylene] films
Překlad názvu	Stanovení středních neelastických volných drah elektronů v tenkých vrstvách polymetylfenyl silylenu
Tvůrce(i)	Zemek, Josef (FZU-D)_{RID, ORCID} Houdková, Jana (FZU-D)_{RID, ORCID} Jiříček, Petr (FZU-D)_{RID, ORCID, SAI} Jablonski, A. (PL) Jurka, Vlastimil (FZU-D)_{RID, ORCID} Kub, Jiří (FZU-D)_{RID, ORCID}
Celkový počet autorů	6
Zdroj.dok.	Polymer. - : Elsevier - ISSN 0032-3861 Roč. 50, č. 11 (2009), s. 2445-2450
Poč.str.	6 s.
Jazyk dok.	eng - angličtina
Země vyd.	GB - Velká Británie
Klíč. slova	polymer physics ; poly[methyl(phenyl)silylene] ; inelastic mean free path
Vědní obor RIV	BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
CEP	GA202/09/0428 GA ČR - Grantová agentura ČR
	IAA100100622 GA AV ČR - Akademie věd
CEZ	AV0Z10100521 - FZU-D (2005-2011)
UT WOS	000266319100013
DOI	10.1016/j.polymer.2009.03.031
Anotace	The IMFP of electrons at a poly[methyl(phenyl)silylene] film surface were determined using elastic peak electron spectroscopy and Monte Carlo calculations.
Pracoviště	Fyzikální ústav
Kontakt	Kristina Potocká, potocka@fzu.cz, Tel.: 220 318 579
Rok sběru	2010

Počet záznamů: 1